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SEL@KIT
著者: 角田 雅照
  • 研究期間: 2022 - 2024
  • 総文献数: 2
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研究キーワード
テスト予測結果ソフトウェアバグ途中ソフトウェアバグ中現在進行過去
文献一覧
2024
学術論文誌(査読付)

[1] 廣瀬 椋一, 西浦 生成, 角田 雅照, 門田 暁人, "過去と現在進行中のテスト結果を組み合わせたソフトウェアバグ予測", コンピュータソフトウェア, 41(4),  4_67-4_73, 2024年10月.

2022
研究会・全国大会等

[1] 廣瀬 椋一, 門田 暁人, 角田 雅照, 笹倉 万里子, 西浦 生成, "ソフトウェアテストの途中結果を用いたバグ予測", 信学技報, pp. 19-24, 2022年3月.

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